電(dian)磁(ci)兼(jian)容測試(shi)-輻(fu)射(she)發射(she)試驗的配置(zhi)和基本步驟(zhou)

為(wei)什麽要(yao)做電(dian)子(zi)設備(bei)？EMC電(dian)磁(ci)兼(jian)容測試(shi)，EMC如何(he)做(zuo)測(ce)試(shi)，從(cong)頭到(dao)尾(wei)都(dou)是硬件。PCB電(dian)子(zi)設計(ji)是工(gong)程(cheng)師的重要環節(jie)。據(ju)統(tong)計(ji)，世(shi)界(jie)上(shang)絕(jue)大多(duo)數(shu)國(guo)家IT，在成(cheng)為(wei)合(he)格(ge)的電(dian)子(zi)產品並(bing)在市(shi)場(chang)上(shang)流(liu)通之(zhi)前，無線(xian)電(dian)和電(dian)信(xin)產品應進行(xing)電(dian)磁(ci)兼(jian)容EMC測試(shi)。EMC測試過(guo)程(cheng)的目的是商(shang)品傳輸的幹(gan)擾信號是否(fou)在可接(jie)受(shou)範圍(wei)內，並(bing)確(que)保(bao)您(nin)的產品和功能不(bu)會受到(dao)幹(gan)擾信號的不(bu)利影響(xiang)。

電(dian)磁(ci)兼(jian)容（EMC）那(na)麽重(zhong)要，我們做(zuo)產品EMC在項目(mu)測(ce)試中(zhong)，需(xu)要做(zuo)些什麽？

壹個(ge)完整(zheng)的產品項目EMC測試包括(kuo)以(yi)下流(liu)程(cheng)：

EMC輻(fu)射(she)發射(she)試驗：幹(gan)擾信號測量(liang)（EMI）根據(ju)電(dian)氣(qi)設備(bei)進(jin)行(xing)測試(shi)

EMC抗(kang)擾測試:測量(liang)商(shang)品對(dui)其他(ta)來源電(dian)磁(ci)幹(gan)擾的敏感性(xing)。

靜電(dian)放(fang)電(dian)（ESD）試(shi)驗：當兩個(ge)物(wu)體接(jie)觸時(shi)釋(shi)放(fang)靜(jing)電(dian)。ESD例(li)子(zi)包括(kuo)在衣物(wu)烘幹(gan)機或雷電(dian)中(zhong)烘幹(gan)衣物(wu)後(hou)有(you)時(shi)會感覺到(dao)靜(jing)電(dian)。

傳(chuan)導抗(kang)擾測試:將(jiang)電(dian)流(liu)引入(ru)被測系統(tong)的輸入(ru)輸出電(dian)纜(lan)。

傳導發射(she)試驗:根據(ju)電(dian)源(yuan)線從電(dian)氣(qi)設備(bei)傳(chuan)回電(dian)氣(qi)系統(tong)的射(she)頻能量(liang)。

頻射(she)兼(jian)容性(xing)試驗：頻射(she)是電(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)能量(liang)對(dui)通信(xin)的有(you)效(xiao)次數(shu)。我們提供(gong)的測試側重(zhong)於在系統(tong)中(zhong)運(yun)行(xing)的天線連(lian)接(jie)RF接(jie)收器(qi)/發射(she)器(qi)子(zi)系統(tong)的正常運(yun)行(xing)不(bu)會導致從天線到(dao)天線的水平(ping)下降(jiang)。

今天我們將(jiang)詳細(xi)解(jie)釋(shi)壹下(xia)EMC輻(fu)射(she)發射(she)試驗.傳導發射(she)試驗。

EMC測(ce)試-輻(fu)射(she)發射(she)

定(ding)義：關(guan)鍵輻(fu)射(she)發射(she)試驗設備(bei)在正常工作(zuo)時對(dui)外(wai)界的輻(fu)射(she)幹(gan)擾強度(du)應根據(ju)客戶端(duan)的典型(xing)安(an)裝要求進(jin)行(xing)布置(zhi)，電(dian)纜(lan)應遵循規範規定(ding)的長度(du)和型(xing)號(hao)；除36.201.1a除規定(ding)的設備(bei)外(wai)，其他(ta)設備(bei)和系統(tong)應基於GB4824（工業(ye).科學和醫療（ISM）分類(lei)設備(bei)騷擾特征(zheng)限值和測量(liang)方(fang)法(fa)).分類(lei)和測試。

類(lei)別：輻(fu)射(she)發射(she)的頻率為(wei)9kHz—18GHz

測(ce)量(liang)這個頻(pin)段(duan)的磁(ci)場H，當EUT小(xiao)時(shi)，放(fang)在大磁(ci)環天線上(shang)（LLA）測(ce)量(liang)感應電(dian)流(liu)騷擾磁(ci)場；當EUT較大時，選擇遠(yuan)天線法(fa)，用單(dan)小(xiao)環在規定(ding)距(ju)離(li)測(ce)量(liang)騷擾的磁(ci)場強度(du)。

在這個頻(pin)段(duan)測量(liang)電(dian)場(chang)E：1GHz以(yi)下，即30MHz—1GHz需(xu)要設備(bei)的地方(fang)大致如下(xia):選擇在寬闊的地方(fang)或半(ban)電(dian)波(bo)暗(an)室(shi)，模(mo)擬半(ban)自由空(kong)間(jian)，00.8m高木(mu)桌(zhuo)，360度(du)旋轉轉(zhuan)臺(tai)，測量(liang)距(ju)離(li)360度(du).10m天線1-4m高(gao)可(ke)調性(xing)，天線垂直極化和水平(ping)極化試驗(yan)，寬帶天線.同(tong)軸(zhou)線.50個(ge)騷擾檢測儀(yi)Ω配對(dui)傳輸系統(tong)，天線阻抗(kang).同(tong)軸(zhou)阻抗(kang)和影響(xiang)探(tan)測(ce)器(qi)的輸入(ru)阻抗(kang)應相同(tong)。阻抗(kang)不(bu)匹配(pei)會引起(qi)反(fan)射(she)，產生(sheng)駐波(bo)，危及(ji)讀數(shu)的準(zhun)確(que)性(xing)。分辨騷擾探(tan)測(ce)器(qi)的特征(zheng)，選擇準(zhun)峰(feng)值(zhi)或峰(feng)值(zhi)測(ce)量(liang)。

1GHz之(zhi)上，即1GHz—18GHz需(xu)要設備(bei)的地方(fang)大致如下(xia):在全電(dian)波(bo)暗(an)室(shi)中(zhong)，模(mo)擬自由空(kong)間(jian)，接收天線設置(zhi)在EUT高度(du)統(tong)壹，轉(zhuan)臺(tai)仍需(xu)360度旋(xuan)轉，試驗間(jian)距(ju)為360度(du)m，選擇小(xiao)口(kou)徑固定(ding)天線，測(ce)量(liang)水平(ping)和垂直兩種(zhong)情(qing)況(kuang)，天線的最小(xiao)距(ju)離(li)應超(chao)過(guo)25cm，為(wei)了避(bi)免(mian)造(zao)成(cheng)天線性(xing)能，選擇了大維護模(mo)式的頻譜分析儀(yi)和多(duo)數(shu)dB動態顯(xian)示，用於測(ce)量(liang)結果的強峰(feng)值(zhi)或平(ping)均(jun)值(zhi)標識(不(bu)需(xu)要準(zhun)峰(feng)值(zhi))，峰(feng)值測量(liang)時選擇1MHz在均(jun)值(zhi)測量(liang)中(zhong)，分辨率帶寬和視頻(pin)帶寬仍(reng)選擇1MHz分辨率帶寬，但(dan)視頻(pin)帶寬應大大降低到(dao)10Hz，相(xiang)當於(yu)增(zeng)加(jia)了壹個(ge)低通(tong)濾(lv)波(bo)器(qi)。

在距(ju)EUT(試驗(yan)設備(bei))墻(qiang)體3m處(chu)理天線和接收器(qi)，將(jiang)天線核心調(tiao)整到(dao)離(li)地(di)2m高(gao)度(du)；首(shou)先(xian)關(guan)閉(bi)測試(shi)設備(bei)，測(ce)試環境噪(zao)聲(sheng)水平(ping)；打開(kai)測試設備(bei)，調(tiao)整接線(xian)方(fang)式(shi)(包括(kuo)天線高(gao)度(du)).天線的極化方(fang)向(xiang)及(ji)其轉(zhuan)盤的視角(jiao))，選擇較大的輻(fu)射(she)點；測試設備(bei)的不(bu)同作(zuo)用，尋(xun)找較大的輻(fu)射(she)方(fang)式(shi)；旋(xuan)轉(zhuan)天線，分別測(ce)試水平(ping)和垂直輻(fu)射(she)騷擾；以(yi)測試(shi)設備(bei)為(wei)核心移(yi)動天線，選擇盡(jin)可能多(duo)的測試點進(jin)行(xing)測量(liang)；選擇輻(fu)射(she)水平(ping)作(zuo)為測(ce)量(liang)結果；實驗(yan)可(ke)在寬闊場和半(ban)電(dian)波(bo)暗(an)室(shi)進行(xing)；關閉(bi)設備(bei)。

EMC測(ce)試-傳(chuan)導發射(she)

傳(chuan)導發射(she)（ConductedEmission）測試，通稱CE，又(you)稱傳(chuan)導騷擾，是指(zhi)系統(tong)根據(ju)信號電(dian)纜(lan)的內部電(dian)壓或電(dian)流(liu).電(dian)源(yuan)線或接(jie)地(di)線(xian)傳(chuan)輸成(cheng)為(wei)其(qi)他軟件或設備(bei)幹(gan)擾源的電(dian)磁(ci)現象(xiang)。傳(chuan)導和發射(she)測試通常稱為(wei)騷擾電(dian)壓測(ce)試。只要(yao)有(you)電(dian)源(yuan)線，就會涉(she)及(ji)到(dao)產品，包括(kuo)許多(duo)直流電(dian)源(yuan)產品。此(ci)外(wai)，在許多(duo)規範中(zhong)，信號(hao)/控(kong)制(zhi)線也(ye)需(xu)要傳(chuan)輸和發射(she)，這通常通過(guo)騷擾電(dian)壓或騷擾電(dian)流(liu)的限制（兩者(zhe)之(zhi)間(jian)存在相互(hu)關(guan)聯(lian)）來表示。

EUT應放(fang)置(zhi)間(jian)距(ju)路面80度(du)~90cm在強試(shi)驗(yan)臺(tai)上，試(shi)驗臺(tai)表面(mian)為(wei)導電(dian)平(ping)面或非(fei)導電(dian)平(ping)面，鋪(pu)設金(jin)屬(shu)接(jie)地(di)板，壹般(ban)為(wei)EUT實際使用的環境.地址選擇導電(dian)或非(fei)導電(dian)試(shi)驗臺(tai)。例如(ru)，攜帶設備(bei)可(ke)以(yi)放(fang)置(zhi)在非導電(dian)試(shi)驗臺(tai)上，安(an)裝在船舶倉(cang)庫(ku)中(zhong)的設備(bei)應在金(jin)屬(shu)導電(dian)試(shi)驗臺(tai)上進(jin)行(xing)測試(shi)。根據(ju)電(dian)源(yuan)阻抗(kang)的穩(wen)定(ding)網絡(luo)，接收待測電(dian)源(yuan)線。待測電(dian)纜(lan)可按標準(zhun)放(fang)置(zhi)，並(bing)鋪(pu)設不(bu)同長度(du)。

臺(tai)型(xing)設備(bei)傳(chuan)導發射(she)實驗(yan)標(biao)準(zhun)的實驗(yan)配(pei)置(zhi)如(ru)下(xia)。

①超(chao)長電(dian)纜(lan)長電(dian)纜(lan)，折疊(die)成(cheng)30個(ge)~40cm的線束；

③EUT與(yu)LISN地(di)面間(jian)距(ju)的投影距(ju)離(li)為(wei)80cm；

④每(mei)個(ge)電(dian)纜(lan)和GND間(jian)的間(jian)隔在10cm以(yi)上；

⑤垂懸電(dian)纜(lan)端(duan)距(ju)GND為40cm以(yi)上，保(bao)證不(bu)會有(you)過(guo)多(duo)的藕合空間(jian)。

立式(shi)設備(bei)實驗(yan)標(biao)準(zhun)的實驗(yan)配(pei)置(zhi)如(ru)下(xia)。

③EUT與(yu)GND要(yao)絕(jue)緣(yuan)；

④每(mei)個(ge)電(dian)纜(lan)和GND間(jian)的間(jian)隔在10cm以(yi)上(這壹點(dian)影響(xiang)很大，因為(wei)電(dian)纜(lan)中(zhong)的共模(mo)電(dian)流(liu)會有(you)很大的變化)。

傳導和發射(she)實驗(yan)的目的是根據(ju)統(tong)壹的標準(zhun)（限值）和電(dian)子(zi)設備(bei).電(dian)源(yuan)線.評估(gu)和規範控制(zhi)線(xian)或地(di)線(xian)向(xiang)外(wai)發射(she)的傳導電(dian)磁(ci)騷擾水平(ping)。

電(dian)子(zi)設備(bei)的噪(zao)聲(sheng)頻(pin)率低於(yu)30MHz時(shi)，關(guan)鍵影響(xiang)聲(sheng)頻(pin)段(duan)。對(dui)於這種(zhong)低頻(pin)電(dian)磁(ci)波(bo)，電(dian)子(zi)設備(bei)的電(dian)纜(lan)不(bu)是波(bo)長(30)MHz的波(bo)長為(wei)10m），它對(dui)空氣(qi)的輻(fu)射(she)效率很低。這樣，如(ru)果(guo)可以(yi)測量(liang)電(dian)纜(lan)上的感應噪(zao)聲(sheng)電(dian)壓，則(ze)可(ke)以(yi)考(kao)慮該頻(pin)段(duan)的電(dian)磁(ci)噪(zao)聲(sheng)影響(xiang)水平(ping)。這種(zhong)噪(zao)聲(sheng)是傳(chuan)導噪(zao)聲(sheng)，就(jiu)像(xiang)中(zhong)斷噪(zao)聲(sheng)壹樣(yang).熨鬥(dou).洗地(di)機.電(dian)飯煲(bao)的哢嗒(da)聲(sheng)。這裏測(ce)得(de)的影響(xiang)噪(zao)聲(sheng)只針(zhen)對(dui)30的頻率MHz測(ce)試內的連(lian)續騷擾電(dian)壓。如(ru)下圖1.1所示，實驗(yan)設備(bei)用(yong)於輸入(ru)端(duan)口(kou)的傳導騷擾試驗，LISN線形阻抗(kang)穩(wen)定(ding)網絡(luo)，EUT為試驗(yan)設備(bei)，LOAD對(dui)於輸出端(duan)口(kou)的負載(zai)，下(xia)圖(tu)1.2顯(xian)示了在輸出端(duan)口(kou)進行(xing)傳導騷擾試驗的實驗(yan)設備(bei)。