射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測試(shi)系(xi)統(tong)

射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測試(shi)系(xi)統(tong)概述(shu)

射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)測試(shi)儀/射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測試(shi)系(xi)統(tong)，可(ke)用於(yu)射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測試(shi)，符合(he)汽(qi)車(che)大(da)電(dian)流(liu)註入(ru)BCI及帶狀(zhuang)線測試(shi)，符合(he)（ISO11452-4/5及相關(guan)標(biao)準(zhun)）以(yi)及射(she)頻(pin)輻射(she)抗(kang)擾度測試(shi)（符合(he)IEC61000-4-3及相關(guan)的標(biao)準(zhun)）。

特(te)點(dian)

1、內(nei)置(zhi)9K-1GHz及*大(da)10KHz-230MHz的大(da)功率(lv)放大(da)器。

2、采(cai)用基於(yu)Windows的操(cao)控(kong)軟件，可(ke)用於(yu)控(kong)制多(duo)想測(ce)試(shi)內(nei)容(rong)。

射(she)頻(pin)場感(gan)應的傳(chuan)導(dao)通常是指來(lai)自(zi)射(she)頻(pin)發射(she)機(ji)的電(dian)磁場。該(gai)電(dian)磁場可(ke)能作(zuo)用於(yu)連接(jie)安(an)裝設(she)備(bei)的整個電(dian)纜(lan)上(shang)。雖然被(bei)騷擾設(she)備(bei)的尺(chi)寸(cun)比騷(sao)擾頻率(lv)的波(bo)長小，但(dan)I/O線，例(li)如電(dian)源線、通信(xin)線、接(jie)口電(dian)纜(lan)等(deng)，由於(yu)其(qi)長度可(ke)能是幾(ji)個波(bo)長、則可(ke)能成(cheng)為無(wu)源的接(jie)收(shou)天線網絡(luo)。

假(jia)定(ding)連接(jie)設(she)備(bei)的電(dian)纜(lan)網絡(luo)是處(chu)於(yu)諧(xie)振的方(fang)式(shi)（入/4和(he)入(ru)/2開路(lu)或折合偶(ou)極(ji)子(zi)，電(dian)纜(lan)系(xi)統(tong)間的敏(min)感(gan)設(she)備(bei)易(yi)受(shou)到流(liu)經(jing)設(she)備(bei)的騷(sao)擾電(dian)流(liu)的影響(xiang)，並(bing)由相對於(yu)參考(kao)接(jie)地(di)平面(mian)（板）具(ju)有 150Ω共模(mo)阻抗的耦(ou)合(he)和(he)去耦網絡(luo)代(dai)表(biao)這(zhe)種電(dian)纜(lan)系(xi)統(tong)。

測量(liang)方(fang)法是使受(shou)試設(she)備(bei)在騷(sao)擾源作用下(xia)形(xing)成(cheng)的電(dian)場和(he)磁場來(lai)模(mo)擬來(lai)自(zi)實際(ji)發射(she)機(ji)的電(dian)場和(he)磁場。這(zhe)些騷擾場是由試驗配(pei)置所(suo)產生(sheng)的電(dian)壓或電(dian)流(liu)所形(xing)成(cheng)的近區(qu)電(dian)場和(he)磁場來(lai)近似表示 的。
用耦合和(he)去耦裝置(zhi)提(ti)供騷擾信(xin)號(hao)給某壹(yi)電(dian)纜(lan)，同(tong)時(shi)保持(chi)其他(ta)電(dian)纜(lan)不(bu)受(shou)影響(xiang)，只近似於(yu)騷(sao)擾源以不(bu)同(tong)的幅度(du)和(he)相位範圍(wei)同(tong)時(shi)作用於(yu)全(quan)部電(dian)纜(lan)的實際(ji)情況(kuang)。