esd靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)

esd靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)是(shi)壹種(zhong)專門用(yong)於測試電(dian)子產(chan)品(pin)抗靜電(dian)能(neng)力的(de)測試設(she)備(bei)。它可(ke)以模(mo)擬(ni)靜電(dian)放電(dian)現象(xiang)，對(dui)被測物(wu)進(jin)行放電(dian)測試，並檢(jian)測其(qi)耐(nai)靜電(dian)能(neng)力是(shi)否符合相關標準和(he)要(yao)求(qiu)。

esd靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)壹般(ban)由(you)高壓(ya)電(dian)源(yuan)、放電(dian)電(dian)容和(he)控(kong)制(zhi)電(dian)路等(deng)組成。其(qi)放電(dian)電(dian)容貯存的(de)能(neng)量可用(yong)於釋(shi)放壹(yi)個瞬間的(de)高電(dian)壓(ya)脈沖(chong)，模(mo)擬(ni)人(ren)體(ti)釋(shi)放靜電(dian)時帶(dai)來(lai)的(de)電(dian)磁(ci)脈沖(chong)信(xin)號。同時，ESD靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)可以產(chan)生多(duo)個靜電(dian)脈沖(chong)，以便(bian)對(dui)被測物(wu)不同的防(fang)靜電(dian)措(cuo)施(shi)進(jin)行測試。

抗擾(rao)度(du)試驗(yan)主(zhu)要(yao)檢(jian)查人(ren)或物(wu)體(ti)在接觸(chu)設(she)備(bei)時(shi)所引(yin)起(qi)的放電(dian)(直(zhi)接放電(dian))以及人(ren)或物(wu)體(ti)對(dui)設備鄰(lin)近物(wu)體(ti)的放電(dian)(間接(jie)放電(dian))時對(dui)設備工(gong)作造成的影響(xiang)。靜電(dian)放電(dian)時可(ke)以在 0.5-20ns 的時間內(nei)產(chan)生 1-50A的放電(dian)電(dian)流。雖(sui)然電(dian)流很大但(dan)因(yin)持續時間很短，故(gu)能(neng)量較小。所以壹(yi)般靜電(dian)放電(dian)不會對(dui)人(ren)產(chan)生傷(shang)害，但(dan)對(dui)集(ji)成電(dian)路芯片等(deng)電(dian)子產(chan)品(pin)可(ke)能(neng)產(chan)生破壞(huai)性的(de)危(wei)害。

試驗(yan)的(de)測試等(deng)級(ji)為(wei)：
接(jie)觸(chu)放電(dian) 2kV，4kV，6kV，8kV；
空氣(qi)放電(dian)：2kV，4kV，8kV，15kV。

1、測試目(mu)的(de)

模(mo)擬(ni)操(cao)作人(ren)員或物(wu)體(ti)在接觸(chu)設(she)備(bei)時(shi)產(chan)生的放電(dian)及人(ren)或物(wu)體(ti)對(dui)臨近物(wu)體(ti)的放電(dian)，以檢(jian)測受試設(she)備(bei)抵(di)抗靜電(dian)放電(dian)的抗幹擾(rao)能(neng)力。

2、應(ying)用(yong)領域(yu)

1. 電(dian)子產(chan)品(pin)測試：ESD靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)可用(yong)於電(dian)子產(chan)品(pin)的(de)耐(nai)受性(xing)測試，如(ru)計(ji)算機(ji)、智(zhi)能(neng)手機(ji)、平板電(dian)腦、電(dian)視(shi)等(deng)。

2. 汽車(che)電(dian)子測試：設(she)備(bei)可以用(yong)於測試汽車(che)電(dian)子的(de)耐電(dian)靜電(dian)放電(dian)性能(neng)，比(bi)如汽車(che)電(dian)子芯片、儀(yi)表(biao)盤(pan)等(deng)。

3. LED測試：在LED生產(chan)中(zhong)，設(she)備(bei)可(ke)以用(yong)來(lai)測試LED的(de)靜電(dian)放電(dian)性能(neng)，如(ru)亮(liang)度(du)變化等(deng)。

4. 醫療器(qi)械(xie)測試：設(she)備(bei)可以用(yong)於醫療器(qi)械(xie)的靜電(dian)放電(dian)測試，如(ru)心臟(zang)起(qi)搏(bo)器(qi)、血壓(ya)計(ji)等(deng)。

5. 電(dian)路板測試：設(she)備(bei)可以用(yong)於測試電(dian)路板的靜電(dian)放電(dian)性能(neng)，如(ru)控制(zhi)板、主板等(deng)。

6. 光學設(she)備(bei)測試：設(she)備(bei)可以用(yong)於測試光(guang)學設(she)備(bei)的靜電(dian)放電(dian)性能(neng)，如(ru)光纖連接(jie)器(qi)、光學開(kai)關等(deng)。

7. 電(dian)力設(she)備(bei)測試：在工業控(kong)制(zhi)、通信等(deng)領域(yu)中(zhong)，ESD靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)可用(yong)於測試電(dian)力設(she)備(bei)的靜電(dian)放電(dian)性能(neng)，如(ru)管道、閥門(men)、變壓(ya)器(qi)等(deng)。

3、符合標準

Ø IEC 61000-4-2

Ø EN 61000-4-2

Ø GB/T 17626.2

Ø ISO 10605

Ø GB/T 19951

相關產(chan)品(pin)標準及企(qi)業(ye)標準

4、技術(shu)特點

Ø 主(zhu)機自(zi)身(shen)可(ke)抵(di)抗20kV靜電(dian)放電(dian)測試；        

Ø 靜電(dian)保持時間大(da)於5s ，符合標準要(yao)求(qiu)；

Ø 高壓(ya)精(jing)密(mi)阻容組合，使(shi)用(yong)壽命超(chao)長，並且(qie)方便更(geng)換，以滿(man)足(zu)不同標準的試驗(yan)要(yao)求(qiu)（150pF、330pF、330Ω、2000Ω）；

Ø 電(dian)壓(ya)漸升(sheng)功能(neng)，方便客(ke)戶在開(kai)發(fa)產(chan)品(pin)時(shi)尋找(zhao)產(chan)品(pin)抗靜電(dian)的臨(lin)界(jie)點(dian)；

Ø 主(zhu)機觸(chu)發(fa)功能(neng)，配(pei)合校準(zhun)過程(cheng)中使(shi)用(yong)，避免(mian)操(cao)作人(ren)員對(dui)校準(zhun)波形造成影響(xiang)；

Ø 聲(sheng)光報(bao)警裝置，明確顯(xian)示有(you)無空(kong)氣放電(dian)過程(cheng)發(fa)生；

Ø 采用(yong)7寸觸(chu)摸(mo)液晶顯示(shi)屏，具(ju)有(you)高抗幹擾(rao)性能(neng)，通過觸(chu)摸(mo)完(wan)成(cheng)，操(cao)作簡潔(jie)快速(su)；

Ø 采用(yong)進(jin)口(kou)放電(dian)開(kai)關及HPS內嵌和(he)多(duo)級(ji)補(bu)償控(kong)制(zhi)技(ji)術(shu)，電(dian)壓(ya)精(jing)準(zhun)度(du)及波形光(guang)滑(hua)度(du)；

Ø 靜電(dian)發(fa)生器(qi)外部(bu)配有(you)槍托，便(bian)於放置靜電(dian)槍槍(qiang)體(ti)與(yu)放電(dian)電(dian)極;

Ø 組(zu)合測試機(ji)制(zhi)，方便客(ke)戶進(jin)行不同參(can)數的(de)連(lian)續測試；

Ø 配(pei)有(you)文(wen)件管理系統(tong)，可以保(bao)存常用(yong)測試參(can)數，也(ye)可(ke)以通過U盤(pan)導入(ru)、導出(chu)測試參(can)數；

Ø 配(pei)有(you)以太(tai)網(wang)口(kou)，可以通過遠(yuan)程控制(zhi)操(cao)作。

5、主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數

6、靜電(dian)放電(dian)測試環(huan)境(jing)

針對(dui)靜電(dian)放電(dian)試驗(yan)專(zhuan)門設(she)計(ji)的，符合最(zui)新標準的要(yao)求(qiu)，對(dui)提高靜電(dian)放電(dian)試驗(yan)的(de)重復(fu)性和(he)可(ke)比(bi)性有(you)重要(yao)作用(yong)，是(shi)臺式(shi)設(she)備和(he)落(luo)地(di)式設(she)備(bei)的(de)組合。靜電(dian)放電(dian)測試環(huan)境(jing)包括：試驗(yan)臺、參(can)考接(jie)地(di)平板、水平耦合板、垂(chui)直(zhi)耦合板、絕(jue)緣襯墊(dian)、接(jie)地電(dian)阻、絕(jue)緣支撐(cheng)等(deng)。