大(da)型溫(wen)度(du)沖擊(ji)試(shi)驗箱是觸摸(mo)屏(ping)、光電、電子(zi)、通訊(xun)、汽(qi)車(che)、虛擬(ni)現實(shi)、量子(zi)通信、線路(lu)板(ban)、元(yuan)器件(jian)等(deng)行業(ye)的(de)試(shi)驗利(li)器(qi)。原(yuan)理是利用(yong)低溫及(ji)高(gao)溫(wen)蓄(xu)冷蓄(xu)熱儲(chu)存槽(cao)，依智(zhi)能控制(zhi)器(qi)編(bian)程(cheng)設置依次(ci)打(da)開風(feng)門實(shi)現冷熱快(kuai)速(su)交(jiao)換（三(san)槽(cao)式(shi)），或(huo)將(jiang)試(shi)件(jian)快(kuai)速移(yi)動到(dao)高(gao)低溫槽(cao)中（兩(liang)槽(cao)式(shi)）。

汽(qi)車行業(ye)冷熱沖(chong)擊(ji)箱又(you)叫冷熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗機(ji),高(gao)低溫沖(chong)擊(ji)箱,用(yong)冷熱溫(wen)度(du)的快(kuai)速變化(hua)來驗證(zheng)產品性(xing)能、耐受(shou)性(xing)和可(ke)靠(kao)性(xing),是觸摸(mo)屏(ping)、光電、電子(zi)、通訊(xun)、汽(qi)車(che)、虛擬(ni)現實(shi)、量子(zi)通信、線路(lu)板(ban)、元(yuan)器件(jian)等(deng)行業(ye)的(de)試(shi)驗利(li)器(qi)。原(yuan)理是利用(yong)低溫及(ji)高(gao)溫(wen)蓄(xu)冷蓄(xu)熱儲(chu)存槽(cao)，依智(zhi)能控制(zhi)器(qi)編(bian)程(cheng)設置依次(ci)打(da)開風(feng)門實(shi)現冷熱快(kuai)速(su)交(jiao)換（三(san)槽(cao)式(shi)），或(huo)將(jiang)試(shi)件(jian)快(kuai)速移(yi)動到(dao)高(gao)低溫槽(cao)中（兩(liang)槽(cao)式(shi)）。

冰(bing)水沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱技(ji)術規(gui)格書(shu) 主(zhu)要模擬應(ying)用(yong)在車(che)輛受(shou)濺區(qu)域(yu)的(de)產品由(you)冰水引(yin)起(qi)的熱沖(chong)擊(ji)。模擬冬季(ji)在(zai)有水路(lu)面(mian)駕駛(shi)時(shi)冰(bing)水濺(jian)落到(dao)熱的(de)系統(tong)/組件(jian)上

兩(liang)槽(cao)式(shi)冷熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗機(ji)區(qu)別與(yu)傳統(tong)的三(san)槽(cao)式(shi),是利用(yong)低溫及(ji)高(gao)溫(wen)蓄(xu)冷熱槽(cao)，依動作需要，將吊籃（放(fang)置實(shi)驗產品）快速移(yi)動到(dao)冷,熱槽(cao)內,從而(er)達(da)到(dao)快速溫度沖(chong)擊(ji)效果(guo).采用(yong)平衡調(tiao)溫(wen)控制(zhi)系統(tong)（BTC）+ 特殊(shu)設計之(zhi)送風(feng)循(xun)環(huan)系統(tong),以(yi)P.I.D.方(fang)式(shi)控制(zhi)SSR,使系統(tong)之加(jia)熱量(liang)等(deng)於熱損(sun)耗(hao)量。有(you)溫變迅(xun)速,沖(chong)擊(ji)嚴(yan)酷(ku)的(de)特(te)點(dian).尤(you)其適(shi)用(yong)於IC、電感(gan)、磁(ci)珠、電路(lu)板(ban)、手機(ji)、模塊(kuai)的產品的研發(fa)階(jie)段(duan)。

兩(liang)槽(cao)式(shi)冷熱沖(chong)擊(ji)箱區(qu)別與(yu)傳統(tong)的三(san)槽(cao)式(shi),是利用(yong)低溫及(ji)高(gao)溫(wen)蓄(xu)冷熱槽(cao)，，將吊籃（放(fang)置實(shi)驗產品）快速移(yi)動到(dao)冷,熱槽(cao)內,從而(er)達(da)到(dao)快速溫度沖(chong)擊(ji)效果(guo).其溫(wen)變迅(xun)速,沖(chong)擊(ji)嚴(yan)酷(ku).獨(du)立(li)開發(fa)控制(zhi)器(qi),人(ren)機對(dui)話友好(hao),可(ke)依(yi)照(zhao)要求擴充程(cheng)式(shi)量,保(bao)留歷史實(shi)驗記錄(lu)及數據(ju).有各種(zhong)吊(diao)藍(lan)尺(chi)寸(cun)及沖擊(ji)溫度範(fan)圍(wei)可選(xuan)（-40℃、-55℃、-65℃）。尤(you)其適(shi)用(yong)於IC、電感(gan)、磁(ci)珠、電路(lu)板(ban)、手機(ji)、模塊(kuai)的產品的研發(fa)階(jie)段(duan)。