傳(chuan)導(dao)騷擾（CE） 應(ying)用特(te)點(dian)： 用來測量(liang)被(bei)試設備（EUT）在正(zheng)常(chang)工作(zuo)狀(zhuang)態(tai)下通(tong)過(guo)電(dian)源線、信號(hao)/控制線(xian)對(dui)周(zhou)圍(wei)環境(jing)所產生的(de)傳(chuan)導(dao)幹擾是(shi)否符合(he)要(yao)求(qiu)。如果幹擾信(xin)號(hao)過(guo)大(da)，就會影響(xiang)整(zheng)個電(dian)網(wang)的(de)用電質(zhi)量(liang)，從而幹擾到(dao)其他電(dian)器的(de)正(zheng)常(chang)運行。在實際(ji)測試時(shi)，受試物在上(shang)電期(qi)間(jian)可能會產生很(hen)強的(de)瞬態(tai)信號(hao)，可能會沖(chong)擊(ji)並損壞測試接收(shou)機(ji)的(de) RF 輸(shu)入端(duan)口，因(yin)此壹般需(xu)要(yao)在(zai) AMN 和(he)接收(shou)機(ji)之(zhi)間(jian)串(chuan)壹個能(neng)抑(yi)制瞬(shun)態(tai)信號(hao)的(de)脈(mai)沖(chong)限幅(fu)器。